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  • 原子力显微镜(AFM)

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  • 对应法规:客户指定方法
    CNAS认可项目:否
  •     原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质,在物理领域应用广泛。

        基于原子力显微镜的单细胞力谱技术的诞生,改变了生命科学以生物化学为基础的传统研究模式,开辟了以力学表征为基础的全新研究视角,是生命科学研究方法的重要突破。目前该技术已经被大量用于医学和生命科学领域的研究中。

        本仪器结合了传统光学显微镜,激光扫描显微镜以及探针显微镜功能的一体机。

        测试项目:2D、3D、粗糙度、高度、沟痕深度。

        样品要求:样品无磁性,块体,薄膜,粉末均可,粉末样品请务必写清楚分散剂以及超声时间,块状样品不超过2cm*2cm。

     


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