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  • X射线荧光光谱(XRF)

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  • 对应法规:客户指定方法
    CNAS认可项目:否
  • 服务简介

     

    XRF荧光光谱仪器由激发源X射线管和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后,仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为11号元素(钠Na)到92号元素(铀U)

     

     

    检测项目

     

     

    对样品进行定性半定量分析

    测试时需要添加硼酸,样品是否回收请留意!

    荧光光谱分析,需要提供相关谱图纸质版给测试老师,以及具体的参数。

     

    样品要求

     

    1. 样品干燥,并且试样在X射线照射下应该稳定、不变形、不引起化学变化。

    2. 固体:尺寸要求(mm) 长×宽:10×10mm~200×200mm 高:<100mm。提供0.3g-1g的样品量可提高准确性!

    3. 粉末:样品均匀、粒度>200目 样品量>0.1g,尽量提供约0.3g的样品以提高准确性。

    4. 液体:样品无挥发性、腐蚀性,粘稠样品不可测

    5. 样品中吸附的二氧化碳和水会对测试结果有影响,请确认样品的状态以及是否需要屏蔽CON等元素(下单时备注)。

     


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